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更新時間：2025-03-31
芯片卡滾壓實驗機根據(jù)Master 卡CQM項目對卡進(jìn)行三輪測試，適用于對識別卡、帶觸點的集成電路卡進(jìn)行三輪往復(fù)循環(huán)測試，將芯片卡放在機器測試滾輪之間，將芯片在三個鋼制滾輪間循環(huán)測試100次，芯片前方滾動50次，芯片后方滾動50次，循環(huán)頻率為0.5Hz，并在芯片上加一個8N的力，經(jīng)過往復(fù)循環(huán)測試后驗證ICC觸點芯片功能是否正常。測試儀配有額外的一個15N砝碼用于進(jìn)行CQM標(biāo)準(zhǔn)推薦的測試。
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芯片卡滾壓實驗機介紹：
芯片卡滾壓實驗機根據(jù)Master 卡CQM項目對卡進(jìn)行三輪測試，適用于對識別卡、帶觸點的集成電路卡進(jìn)行三輪往復(fù)循環(huán)測試，將芯片卡放在機器測試滾輪之間，將芯片在三個鋼制滾輪間循環(huán)測試100次，芯片前方滾動50次，芯片后方滾動50次，循環(huán)頻率為0.5Hz，并在芯片上加一個8N的力，經(jīng)過往復(fù)循環(huán)測試后驗證ICC觸點芯片功能是否正常。測試儀配有額外的一個15N砝碼用于進(jìn)行CQM標(biāo)準(zhǔn)推薦的測試。
主要技術(shù)參數(shù)：
1.型號：MX-SL
2.測試輪循環(huán)次數(shù)：前后循環(huán)各50次
3.測試標(biāo)準(zhǔn)參考: Mcd
4.CQM測試標(biāo)準(zhǔn)參考: P-22
5.測試方法參考: 10.3.22
6.CQM: 6.1.11-12.1.5.2 -16.1.18.2
7.電源: 110-220 V 50/60 Hz.
8.執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17554. 3-2006
附件二：
技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)：
序號 | 外觀部份（常規(guī)） |
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1 | 設(shè)備的長寬高為：CM*CM*CM 26*23*28 |
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2 | 機體外殼整體負(fù)觀配合合理，本機外罩、電鍍、不銹鋼配合順暢 |
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3 | 所有電鍍件完好無刮花 |
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4 | 所有氧化件完好無刮花 |
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5 | 各固定螺絲鎖緊 |
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6 | 外罩外觀裝配合理，無移位或偏離 |
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7 | 機器電源開關(guān)與相關(guān)功能鍵有使用標(biāo)識 |
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| 電路部份（常規(guī)） |
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1 | 專門配有接地線 |
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2 | 內(nèi)部電源線以及各內(nèi)部用線走線合理，美觀 |
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3 | 計數(shù)器正常，能按要求歸零 |
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| 傳動部份 |
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1 | 電機及傳動部分配合合理，轉(zhuǎn)動時無異常的摩擦聲 |
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2 | 傳動運行均勻，節(jié)奏合理 |
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3 | 傳動部份鎖緊，不會造成松脫 |
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4 | 正常運行時卡片每分鐘30個循環(huán) |
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5 | 底座為像膠墊 |
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| 操作及測試部份 |
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1 | 放置卡片槽位后卡片三輪測試水平 |
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2 | 機器的停止位每次停下* |
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3 | 三輪輪子的直徑為10mm |
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4 | 被測試卡片很容易的放入測試槽 |
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5 | 作用在三輪上的壓力分8N和15N兩段壓力，砝碼重量精準(zhǔn) |
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6 | 測試時卡片越過三輪后遠(yuǎn)邊與中輪中心位的距離為39~41mm |
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7 | 計數(shù)器計數(shù)正確 |
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8 | 計數(shù)器設(shè)定一數(shù)值后，計數(shù)達(dá)到這個數(shù)值時機器能自動停止 |
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9 | 執(zhí)行的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)為GB/T 17554. 3-2006 |
0513-81526002
0513-81526001
18851312788
